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SEM+EDS分析 |
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SEM通过聚焦电子束扫描样品表面，激发二次电子和背散射电子等信号，这些信号被转换为图像，从而揭示样品的微观形貌和结构信息。
在SEM+EDS分析中，样品的导电性对成像和元素分析的结果有重要影响，非导电样品需要进行导电处理，如镀金或镀碳，以提高成像效果和元素分析的准确性。
SEM+EDS分析技术具有高分辨率、高灵敏度、高准确性等优点，能够实现对样品表面和内部微观结构的深入分析和理解。
SEM+EDS分析技术可以用于研究材料的相变、扩散、析出等过程，为材料的热处理和改性提供科学依据。
在SEM+EDS分析中，需要注意样品的尺寸和形状对分析结果的影响，需要选择合适的样品尺寸和形状，以确保分析的准确性和可靠性。
SEM+EDS分析技术可以用于分析复合材料的界面结构和成分分布，为复合材料的制备和应用提供科学依据。
在SEM+EDS分析中，可以通过与其他分析技术如透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射（XRD）等结合使用，获取更全面的材料信息。
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